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摘要:
介绍了一种基于偏振光干涉的直线度测量系统,该系统由固定部分和活动部分组成.测量时,活动部分固定在被测要素上.被测要素的直线度变化将导致两线偏振光相位的变化.通过计量干涉条纹即可得到直线度的变化结果.实验显示本测量系统具有10 nm的分辨率,在20 mm的测量范围内误差≤0.5 μm,提高了分辨率和测量精度.
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文献信息
篇名 一种基于偏振光干涉的直线度测量系统
来源期刊 光学与光电技术 学科 工学
关键词 直线度 测量 偏振光干涉 相位 系统
年,卷(期) 2014,(5) 所属期刊栏目 光电测量
研究方向 页码范围 51-54
页数 分类号 TN24
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 周易 7 54 4.0 7.0
2 肖胜 8 24 3.0 4.0
3 冯胜东 华中科技大学机械学院仪器系 1 4 1.0 1.0
4 康吉 华中科技大学机械学院仪器系 1 4 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
直线度
测量
偏振光干涉
相位
系统
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光学与光电技术
双月刊
1672-3392
42-1696/O3
大16开
武汉市阳光大道717号
38-335
2003
chi
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9791
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