红外热像仪在HPC复杂电路板故障定位中的作用

• 作者: 吴福永 杨培和
• 来源期刊: 高性能计算技术
• 学科: 工学
• 关键词: 红外热像仪 故障定位 红外发射率 黑体辐射
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 高性能计算技术
• 页码范围: 39-42
• 页数: 4页
• 分类号: TP306
• 语种: 中文

摘要

针对高性能计算机复杂电路板故障定位难的问题,本文介绍了利用福禄克公司的系列红外热像仪进行故障定位的方法.实践证明该方法定位快速、准确,能节省大量调试时间.在实际应用中已完成500多块各类电路板的故障定位,成功率达90％以上.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴福永		5	5	1.0	2.0
2	杨培和		4	0	0.0	0.0