应用于 Vi rtex 系列 FPGA的 IR-CLB 资源的联合测试和诊断

• 作者: 万理 于敦山 李文昌 阮爱武
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 现场可编程门阵列 互联资源 可编程逻辑模块 联合测试
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 页码范围: 5-7,12
• 页数: 4页
• 分类号: TP206
• 语种: 中文

摘要

FPGA（Field Programmable Gate Arrays）作为现场可编程门阵列，其丰富的内部资源和强大的功能越来越受到应用者的青睐。随着FPGA规模的增大，其可靠性问题日益受到重视。因此，如何保证 FPGA 可靠性成为了FPGA生产厂商和应用人员需要共同面对的问题。从 FPGA 的可靠性这一重要性出发，针对Virtex 系列XCV300芯片的故障测试，根据互联资源的特点，创新性地提出了针对IR和CLB资源的IR-CLB资源联合测试方法。实现了IR和CLB资源的同时测试，并且利用FPGA底层布线工具得到了实际测试配置图形。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	阮爱武	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	16	110	6.0	10.0
2	于敦山	北京大学信息科学技术学院	29	66	4.0	6.0
3	李文昌	北京大学信息科学技术学院	3	10	2.0	3.0
4	万理	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	2	7	2.0	2.0