SRAM型FPGA的CLB模块测试技术

• 作者: 王建超 陆锋 顾卫民
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA CLB模块 BIST 全覆盖
• 年，卷（期）: 2015,（8）
• 页码范围: 17-20
• 页数: 4页
• 分类号: TN307
• 字数: 2167字
• 语种: 中文

摘要

针对FPGA芯片中CLB模块的测试难点，主要介绍了对FPGA芯片进行内建自测试的一种测试方法。在CLB模块中采用内建自测试分别对CLB模块的三态缓冲器、触发器、分布式RAM、CLB内部进位链与门、锁存器、算数逻辑、多路选择器MUXF6、移位寄存器进行测试，从而达到了缩短测试时间、全覆盖测试的目的。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陆锋	江南大学物联网工程学院	19	27	3.0	4.0
5	王建超	江南大学物联网工程学院	6	8	2.0	2.0
7	顾卫民		4	5	1.0	1.0