基于部分重构的SRAM型FPGA单粒子翻转模拟

• 作者: 卢凌云 徐宇 李悦 李林 杨海钢 蔡刚 贾海涛
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: SRAM型FPGA 单粒子翻转(SEU)模拟 部分重构
• 年，卷（期）: 2015,（12）
• 页码范围: 95-99,104
• 分类号: TN4
• 语种: 中文

摘要

介绍了一种基于部分重构技术的SRAM型FPGA单粒子翻转模拟方法.针对SRAM型FPGA的单粒子翻转特性,建立了一种能够模拟不同线性能量转移(LET)值和注量率(Flux)重离子入射的故障注入模型.该模拟方法可用于对SRAM型FPGA应用电路采用的抗辐照加固效果进行定量预评估,验证不同加固方案的有效性,同时还可减少辐照试验的次数,降低试验成本.基于Virtex-4 SRAM型FPGA,针对三模冗余(TMR)的单粒子翻转加固方法进行了定量评估.评估试验结果表明,该方法较好地模拟了入射粒子LET值和系统电路失效率之间的关系,验证了三模冗余加固方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李林	中国科学院电子学研究所	89	1043	18.0	31.0
5	杨海钢	中国科学院电子学研究所	134	485	10.0	15.0
6	蔡刚	中国科学院电子学研究所	13	35	4.0	5.0
7	李悦	中国科学院电子学研究所	18	43	4.0	6.0
11	徐宇	中国科学院电子学研究所	17	16	3.0	3.0
15	贾海涛	中国科学院电子学研究所	4	37	3.0	4.0
16	卢凌云	中国科学院电子学研究所	1	4	1.0	1.0