SRAM型FPGA空间应用的抗单粒子翻转设计

• 作者: 刘波 叶有时 施蕾 胡洪凯 董暘暘
• 来源期刊: 航天器环境工程
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA 单粒子翻转 容错设计 可靠性
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 地面模拟试验技术
• 页码范围: 510-515
• 页数: 6页
• 分类号: TN47
• 字数: 4852字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1379.2014.05.010

摘要

SRAM型FPGA容易受到空间辐射环境引起的单粒子翻转（SEU）的影响，造成FPGA逻辑错误和功能中断，因此空间应用时必须对其进行抗单粒子翻转加固设计，提高其空间应用的可靠性。文章综述了几种FPGA抗单粒子翻转的设计方法，包括三模冗余设计、动态刷新设计和动态部分可重构设计等。利用构建的测试系统，验证以上多种FPGA抗单粒子翻转设计方法的工程可实施性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡洪凯		3	12	1.0	3.0
2	施蕾		8	59	4.0	7.0
3	董暘暘		2	14	2.0	2.0
4	刘波		22	69	5.0	8.0
5	叶有时		3	12	1.0	3.0