航天用SRAM型FPGA抗单粒子翻转设计

• 作者: 马寅
• 来源期刊: 航天器环境工程
• 学科: 工学
• 关键词: 单粒子翻转 抗辐射加固 回读 刷新 块RAM 容错
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 所属期刊栏目: 支撑技术
• 页码范围: 551-556
• 页数: 6页
• 分类号: TN402|TN406
• 字数: 5074字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1379.2011.06.009

摘要

采用SRAM工艺的FPGA因其性能优异,在空间领域的应用受到重视；但是在空间环境中,SRAM型FPGA易受单粒子翻转的影响而导致逻辑故障或功能中断.文章提出对该类芯片的配置逻辑部分采用回读比较后刷新、对其BRAM部分采用通用自纠错宏的抗单粒子翻转(SEU)设计方案,在牺牲一定的器件性能的情况下,能达到较好的抗辐射效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马寅	中国空间技术研究院载人航天总体部	1	15	1.0	1.0