X射线荧光光谱法测定铬质引流剂的化学成分

• 作者: 陈德
• 来源期刊: 重庆科技学院学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: X射线 光谱法 测定 化学成分
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: 化工·材料
• 页码范围: 89-92,156
• 页数: 5页
• 分类号: TF11
• 字数: 2572字
• 语种: 中文

摘要

根据铬质引流剂难熔、难以制备玻璃熔片的特点,对熔剂选择和混合熔剂比例选择、试样量熔剂量比例选择、脱模剂选择用量试验、熔制程序干扰校正等进行了试验,建立了X射线荧光光谱法,以此测定了铬质引流剂的化学成分.各成分测试标准偏差≤0.12％,与化学法测定结果无显著性差异.