抗振晶体振荡器相位噪声测试方法的对比研究

• 作者: 徐淑壹 王占奎 贾英茜 陈中平
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 晶体振荡器 相位噪声 抗振 振动
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 电子·电路
• 页码范围: 36-38,41
• 页数: 4页
• 分类号: TN752
• 字数: 964字
• 语种: 中文

摘要

目前电子系统都要求对晶体振荡器进行振动状态下相位噪声测试.但对于抗振晶体振荡器,按照常规相位噪声测试方法进行测试时其结果有可能不正常.文中分析了抗振晶体振荡器振动状态下的相位噪声及测试方法,通过对比测试发现,不同的测试系统其测试结果也不相同.通过系统设置和实验验证,解决了测试结果不正常的问题,使测试结果达成一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贾英茜	石家庄学院电气信息工程系	22	28	3.0	4.0