日本电子推出分辨率达63pro的透射电镜JEM-ARM300F

• 来源期刊: 中国材料科技与设备
• 学科: 化学
• 关键词: 原子分辨率 透射电镜 电子 日本 微观结构分析 先进材料 高分辨率 纳米级
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 页码范围: 98-98
• 页数: 1页
• 分类号: O614.122

摘要

日前，JEOL宣布推出新型原子分辨率电镜JEM—ARM300F。 透射电镜一直以来是材料研发当中进行微观结构分析的重要工具。然而，随着纳米级或原子水平的先进材料的研发，针对这类材料的合成研究越来越需要高分辨率的成像和分析技术。