热载流子效应对CCD片上放大器寿命的影响

• 作者: 任利平 唐利 廖晓航 汪凌
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: CCD 放大器 寿命 热载流子效应
• 年，卷（期）: 2014,（4）
• 所属期刊栏目: 电子·电路
• 页码范围: 69-71,75
• 页数: 4页
• 分类号: TN722
• 字数: 1428字
• 语种: 中文

摘要

针对CCD片上放大器的寿命进行了研究.通过设计独立的MOSFET,使用衬底电流模型进行热载流子效应分析,研究其特性参数Gm退化量与退化时间关系,由此评价组成CCD片上放大器的寿命.研究结果表明,CCD片上放大器寿命随着栅长的减小而降低,制作LDD结构可提高CCD片上放大器寿命.