HPGe γ谱仪点源探测效率计算的蒙特卡罗方法研究

• 作者: 刘皓然 刘良军 张明 李则书 梁珺成
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 探测效率 蒙卡方法 HPGe γ谱仪 CT扫描
• 年，卷（期）: 2014,（9）
• 页码范围: 1037-1040
• 页数: 4页
• 分类号: TL84
• 字数: 2252字
• 语种: 中文

摘要

在CT 扫描精确获得HPGe探测器结构尺寸的基础上，用MCNP4C蒙特卡罗程序建立了HPGeγ谱仪计算点源的物理模型；通过对探测器死层尺寸的精确校正，确定了探测器死层厚度为0．38 cm；以点源物理模型和探测器死层校正尺寸为基础，分别计算了60 Co、133 Ba、137 Cs、241 Am和152 Eu标准点源各能量分支的探测效率，并与实验结果比较，计算在59．54～1408．01 keV能量范围内探测效率的最大相对偏差为2．39％，最小相对偏差为0．13％。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘良军	南华大学核科学技术学院	30	126	7.0	9.0
2	梁珺成		36	51	4.0	5.0
3	张明		28	61	5.0	6.0
4	刘皓然		9	14	3.0	3.0
5	李则书	南华大学核科学技术学院	2	8	2.0	2.0