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摘要:
以STM32单片机为任务控制与数据处理核心,根据零中频正交解调原理,进行频率特性测试仪的设计制作。采用直接频率合成芯片AD9854制作扫频信号源,产生I、Q两路正交信号,这两路信号分别通过放大器、模拟乘法器及低通滤波器等外围电路,由STM32的片内ADC进行信号采集,经运算获得被测网络的幅频特性与相频特性。该测试仪可以进行点频测量和1~50MHz的扫频测量,可以手动预置测频范围和步进频率,并在320×240彩色液晶屏上显示幅频特性和相频特性曲线。
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基于STM32的频率特性测试仪的设计
STM32
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 基于 AD9854与 STM32的频率特性测试仪设计
来源期刊 化工自动化及仪表 学科 工学
关键词 频率特性测试仪 STM32单片机 零中频正交解调 直接频率合成
年,卷(期) 2014,(6) 所属期刊栏目 检测与仪表
研究方向 页码范围 655-659
页数 5页 分类号 TH862
字数 2491字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 薛严冰 大连交通大学电气信息学院 43 167 8.0 11.0
2 董宝玉 大连交通大学电气信息学院 6 40 3.0 6.0
3 马驰 大连交通大学电气信息学院 5 37 3.0 5.0
4 盛虎 大连交通大学电气信息学院 24 32 2.0 5.0
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研究主题发展历程
节点文献
频率特性测试仪
STM32单片机
零中频正交解调
直接频率合成
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
化工自动化及仪表
双月刊
1000-3932
62-1037/TQ
大16开
兰州市西固区合水北路3号
54-27
1965
chi
出版文献量(篇)
5533
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44
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