基于STM32的频率特性测试仪的设计

• 作者: 吴涵旭 屈乐乐 崔思尧 杨研 韩磊
• 来源期刊: 数字技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: STM32 频率特性测试仪 AD8302
• 年，卷（期）: 2019,（11）
• 所属期刊栏目: 设计开发
• 页码范围: 120-121
• 页数: 2页
• 分类号: TN828.6
• 字数: 1221字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19695/j.cnki.cn12-1369.2019.11.68

摘要

本文提出了一种实用性频率特性测试仪的设计方案.该设计通过分析扫频信号输出性能指标,对相应的信号源和电流型反馈运算放大电路进行结合,使用继电器控制Π型阻抗匹配网络,从而实现了输入和输出衰减网络.为了增加测试功能,采用两片AD8302芯片的方法测量相位差和相位极性.采取STM32处理器作为中央处理器,使整体结构更为简单,解决了国内低频频率特性测试仪功能简单、体积较大、价格昂贵等问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴涵旭	沈阳航空航天大学电子信息工程学院	1	0	0.0	0.0
2	屈乐乐	沈阳航空航天大学电子信息工程学院	29	59	4.0	6.0
3	韩磊	沈阳航空航天大学电子信息工程学院	1	0	0.0	0.0
4	崔思尧	沈阳航空航天大学电子信息工程学院	1	0	0.0	0.0
5	杨研	沈阳航空航天大学电子信息工程学院	1	0	0.0	0.0