晶粒尺寸对Cr20Ni80电热合金电阻率的影响

• 作者: 夏天东 张本朋 杨健 王晓军 赵文军
• 来源期刊: 材料导报
• 学科: 工学
• 关键词: Cr20Ni80 拉伸变形 再结晶退火 晶粒尺寸 电阻率
• 年，卷（期）: 2014,（4）
• 所属期刊栏目: 材料研究
• 页码范围: 4-6
• 页数: 3页
• 分类号: TG166.7
• 字数: 2496字
• 语种: 中文

摘要

通过拉伸变形和再结晶退火改变Cr20Ni80的晶粒尺寸,研究了晶粒尺寸对Cr20Ni80电阻率的影响,并分析了原因.结果表明,材料变形越大,晶粒尺寸越小,其电阻率值就相对较高,且晶粒较大时,晶粒尺寸的变化对电阻率影响较显著.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张本朋	兰州理工大学材料科学与工程学院	3	9	1.0	3.0
2	杨健	兰州理工大学材料科学与工程学院	4	26	3.0	4.0