基于A567进行运算放大器DC参数测试技术研究

• 作者: 孙丽军 许清平
• 来源期刊: 数字技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: A567测试系统 运算放大器 测试
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: 应用研究
• 页码范围: 59-60
• 页数: 2页
• 分类号: TN722
• 字数: 2348字
• 语种: 中文

摘要

运算放大器作为一种通用器件，其测试技术比较成熟。为快速解决在测试过程中出现的问题，需对测试系统内部参数测试实现方式做深入了解。本文将以teradyne公司的混合信号测试系统A567为例，对运算放大器的测试理论及技术进行了分析，并提出了一种新的测试实现方式。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙丽军		4	11	1.0	3.0
2	许清平		5	9	1.0	3.0