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摘要:
近年,随着无铅进程的推进,越来越多的Pad Cratering问题出现在传统复杂单板的BGA位置.手持终端产品如手机、平板电脑等电子产品受到人们的追捧,同时,这类产品在跌落后出现失效的案例越来越多,分析研究发现大部分的失效与BGA位置的PadCratering有相关性.行业中一些研究分析认为,无铅焊料所要求更高的焊接温度和无铅焊料硬度更大固然是造成Pad Cratering现象增多的主要因素之一,但是,电子产品所使用的PCB基材也是不容忽视的一方面.本论文通过CBP(冷拔球)的方法来评估不同类型PCB基材的焊盘拉脱强度,得出无铅材料在焊盘拉脱强度优于无卤材料和高速材料的结论,同时,从树脂体系的差异性去分析影响PCB基材的拉脱强度差异的主要原因.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 不同类型材料对球垫坑裂影响的研究之一
来源期刊 印制电路信息 学科 工学
关键词 球垫坑裂 冷拔球 拉脱强度 无铅材料 PC 9708
年,卷(期) 2014,(z1) 所属期刊栏目 印制电路基板材料
研究方向 页码范围 16-22
页数 7页 分类号 TN41
字数 3545字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 叶锦荣 1 0 0.0 0.0
2 冯小明 1 0 0.0 0.0
传播情况
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2014(0)
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研究主题发展历程
节点文献
球垫坑裂
冷拔球
拉脱强度
无铅材料
PC 9708
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
印制电路信息
月刊
1009-0096
31-1791/TN
大16开
上海市闽行区都会路2338号95号楼CPCA大厦2楼
1993
chi
出版文献量(篇)
5458
总下载数(次)
19
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10164
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