作者:
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
光栅横向剪切干涉仪能够实现超高精度检测光学系统的波像差,是当前光刻镜头研发的重要组成内容之一.零级串扰和相移误差是影响光栅剪切干涉仪检测精度的两个主要因素,为此,提出了一种十三步光栅剪切干涉相位复原算法,在消除零级串扰的同时,还能够极大地降低对相移误差的苛刻要求.分析表明,当相移误差不大于25°时,相位复原误差小于0.01°(即2.8×10-5λ).对于λ=193.386 nm,相位复原误差小于0.005 nm.因此,通过系统误差校正,光栅剪切干涉仪检测光刻镜头系统波像差的精度能够达到亚纳米级.
推荐文章
双光栅正弦相位调制(SPM)干涉测量技术的发展与应用
干涉测量
双光栅正弦相位调制
表面形貌
动态测量
横向大剪切干涉应用于水平圆管自然对流换热
水平圆管
自然对流
换热
横向剪切干涉
剪切量
横向剪切干涉测量中准确的相位恢复算法
剪切干涉
相位差分
相位恢复
算法
Sagnac横向剪切干涉仪设计方法的研究
Sagnac干涉仪
傅里叶变换成像光谱仪
优化设计
加工装调
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 十三步光栅横向剪切干涉相位复原算法
来源期刊 中国激光 学科 物理学
关键词 测量 横向剪切干涉仪 相移算法 相位复原
年,卷(期) 2014,(5) 所属期刊栏目 测量与计量
研究方向 页码范围 178-181
页数 4页 分类号 O436
字数 语种 中文
DOI 10.3788/CJL201441.0508003
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 向阳 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 45 394 12.0 18.0
2 方超 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 19 78 5.0 8.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (33)
共引文献  (14)
参考文献  (8)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1972(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1974(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1984(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
1987(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
1990(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1994(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1995(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
1996(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1997(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
1999(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2001(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2002(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2004(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
2006(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
2007(3)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(2)
2008(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2009(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2010(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
2011(8)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(8)
2012(4)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(3)
2013(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2014(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
测量
横向剪切干涉仪
相移算法
相位复原
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
中国激光
月刊
0258-7025
31-1339/TN
大16开
上海市嘉定区清河路390号 上海800-211邮政信箱
4-201
1974
chi
出版文献量(篇)
9993
总下载数(次)
26
总被引数(次)
105193
论文1v1指导