汽车电子 MCU 的抗 EMI设计与测试方案

• 作者: 于梦溪 王海欣 黑勇
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 汽车电子 电磁兼容 电磁干扰测试 同时开关噪声
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 页码范围: 142-147
• 页数: 6页
• 分类号: TN402
• 语种: 中文

摘要

针对汽车电子M C U的电磁兼容设计，提出了一些可行性的方法，主要包括时钟以及IO端口的设计，并且根据芯片级测试标准IEC61967的传导发射测试---1Ω/150Ω直接耦合法，进行适合汽车电子MCU的电磁干扰测试。经过样本数据的分析发现，芯片级电磁干扰与时钟频率、功能模块类别以及工作模式等有着密切的关系。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黑勇	中国科学院微电子研究所	86	477	11.0	16.0
2	王海欣	中国科学院微电子研究所	2	4	2.0	2.0
3	于梦溪	中国科学院微电子研究所	1	2	1.0	1.0