基于时序优先的电路容错混合加固方案

• 作者: 梁华国 蒋翠云 陈凡 黄正峰
• 来源期刊: 电子与信息学报
• 学科: 工学
• 关键词: 微电子 软错误 时序裕度 触发器替换 复制门法
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 234-240
• 页数: 7页
• 分类号: TN402
• 字数: 5596字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1146.2013.00449

摘要

为了有效降低容忍软错误设计的硬件和时序开销，该文提出一种时序优先的电路容错混合加固方案。该方案使用两阶段加固策略，综合运用触发器替换和复制门法。第1阶段，基于时序优先的原则，在电路时序松弛的路径上使用高可靠性时空冗余触发器来加固电路；第2阶段，在时序紧张的路径使用复制门法进行加固。和传统方案相比，该方案既有效屏蔽单粒子瞬态(SET)和单粒子翻转(SEU)，又减少了面积开销。ISCAS’89电路在45 nm工艺下的实验表明，平均面积开销为36.84%，电路平均软错误率降低99%以上。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁华国	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	192	1611	19.0	30.0
2	黄正峰	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	101	590	14.0	19.0
3	蒋翠云	合肥工业大学数学学院	21	373	9.0	19.0
4	陈凡	合肥工业大学计算机与信息学院	5	40	3.0	5.0