篇名 | Thermal effect of Ge2Sb2Te5 in phase change memory device | ||
来源期刊 | 中国物理B(英文版) | 学科 | |
关键词 | phase change memory Ge2Sb2Te5 thermal effect failure analysis | ||
年,卷(期) | 2014,(8) | 所属期刊栏目 | |
研究方向 | 页码范围 | 121-124 | |
页数 | 4页 | 分类号 | |
字数 | 语种 | 中文 | |
DOI | 10.1088/1674-1056/23/8/087804 |