基于 FLASH-March算法的 FLASH缺陷检测系统

• 作者: 李婷 王瑜 郭进杰 霍宗亮
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: FLASH 缺陷 FLASH-March算法 FPGA
• 年，卷（期）: 2014,（10）
• 页码范围: 81-85
• 页数: 5页
• 分类号: TN402
• 语种: 中文

摘要

介绍了FLASH缺陷机理并提出了面向8 bit和16 bit的 FLASH-March算法，在此基础上设计并实现一种新的FLASH缺陷检测系统。该系统以FPGA为硬件基础，以Microblaze软核为CPU 搭建系统主体架构，实现了对FLASH缺陷的检测。相比于传统方法，本系统有实现简单，成本低，便于相关算法研究的特点。本设计最终在实际中得到应用，验证了设计的有效性和可靠性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李婷	中国科学院微电子所	62	306	10.0	14.0
2	王瑜	中国科学院微电子所	20	252	7.0	15.0
3	霍宗亮	中国科学院微电子所	10	8	2.0	2.0
4	郭进杰	中国科学院微电子所	1	3	1.0	1.0