银吸收边附近X射线衰减系数测量

• 作者: 易荣清 樊启文 马陈燕
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 衰减系数 同步辐射 吸收边 不确定度
• 年，卷（期）: 2014,（7）
• 所属期刊栏目: 粒子束技术
• 页码范围: 270-273
• 页数: 4页
• 分类号: O436.2
• 字数: 1958字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201426.074006

摘要

在北京同步辐射装置的4 BTA中能X光束线上,光源能区为2.1～6.0 kcV,能量分辨大于5000,高次谐波小于0.1％,光源强度大于1 09光子/s.通过全能区多能点的透过率精确测量Ag样品质量厚度,然后采用Ag薄膜对单能X光子的透过率进行测量,给出了Ag薄膜在吸收边(3.4～3.9 kcV)的衰减系数.建立了Ag样品吸收边附近衰减系数同步辐射测量方法.通过不确定度分析给出衰减系数测量不确定度小于1％,填补了在该区间衰减系数的空白.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	易荣清	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	35	109	5.0	8.0
2	马陈燕	中国科学院高能物理研究所	7	29	2.0	5.0
3	樊启文		9	4	1.0	2.0