用于软X射线图像诊断的CMOS探测系统

• 作者: 侯立飞 刘慎业 杨国洪 韦敏习
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 软X射线 在线诊断 探测器 图像
• 年，卷（期）: 2014,（12）
• 所属期刊栏目: ICF与激光等离子体
• 页码范围: 105-108
• 页数: 4页
• 分类号: O434.1
• 字数: 2670字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201426.122003

摘要

通过将闪烁体光纤面板与CMOS图像传感器耦合,研制了在线诊断X射线图像的CMOS探测系统.通过XOP软件计算,确定了响应能区为1～10 keV的CsI闪烁体厚度为30μm.在微点X射线源平台上,基于标准的Typ 18-d型分辨率板对CMOS探测系统的空间分辨能力进行了实验测试,结果为60 μm.在神光Ⅲ原型激光装置上,利用该套CMOS探测系统在流体力学不稳定性与混合实验中对钛背光源的光谱进行了诊断,获得了清晰的类氢和类氦光谱图像.数据分析显示,实测的谱分辨为442,与理论分析符合较好.CMOS探测系统小巧轻便,性价比高,适合各大高校与科研院所用于在线诊断软X射线图像.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘慎业	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	113	323	9.0	11.0
2	杨国洪	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	52	217	8.0	12.0
3	韦敏习	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	28	56	4.0	6.0
4	侯立飞	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	24	34	4.0	5.0