基于MARS系统的X射线能谱K-edge特性CT成像技术

• 作者: 何鹏 冯鹏 陈绵毅 魏彪
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: X射线能谱CT 光子计数探测器 K-edge特性 材质鉴别
• 年，卷（期）: 2014,（10）
• 所属期刊栏目: 粒子束技术
• 页码范围: 101001-1-104004-5
• 页数: 1页
• 分类号: O434.13
• 字数: 3750字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201426.104004

摘要

针对传统的 X射线CT系统因采用积分探测器难于鉴别材质的关键技术问题,基于 MARS系统的 X射线能谱CT,开展了 X射线能谱K-edge特性的CT成像技术研究。通过对单一材质和混(复)合材质组成的物理模型的多个 X射线能量段进行CT断层扫描,获得了材质的 K-edge 特性曲线,以此重建出了材质的CT图像。借助材质 K-edge特性的 CT断层图像,可以进行材质的鉴别分析或进行更多的材质认知信息的分析研究。与传统的 X射线CT技术相比较,它可以提供更为丰富的 X射线衰减信息。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏彪	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	111	658	12.0	19.0
2	冯鹏	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	65	390	12.0	16.0
3	何鹏	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	10	35	4.0	5.0
4	陈绵毅	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	4	21	3.0	4.0