X射线诱导俄歇电子能谱(XAES)的应用

• 作者: 吴正龙
• 来源期刊: 现代仪器与医疗
• 关键词: X射线诱导俄歇电子能谱(XAEs) 俄歇参数 X射线光电子谱(XPS) 化学位移 砷化镓(GaAs) 氧化锌(ZnO)
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 分析测试
• 页码范围: 58-61
• 页数: 4页
• 分类号: TH74
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7916.2009.01.020

摘要

简要介绍X射线诱导俄歇电子能谱(XAES)用于化学分析的一般性理论.XAES可与X射线光电子能谱(XPS)一起用于元素化学态分析.但是XAES分析有其优势,(1)俄歇参数与荷电位移无关,结果无需荷电校准就可用于价态分析;(2)在一些涉及过渡元素和重元素物质的价态分析时,XAES峰化学位移大于XPS峰;(3)对于分析一些轻元素(如K、Mg、Al等),XAES峰比某些XPS峰有更高的灵敏度.因而,XAES可弥补XPS分析的某些不足,可方便、有效地表征元素价态.通过实例,介绍XAES在这3个方面的实际应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴正龙	北京师范大学分析测试中心	41	276	7.0	15.0