X射线法测量多晶材料残余应力

• 作者: 任凤章 张伟 张旦闻 田保红 罗玉梅 苏娟华 魏世忠
• 来源期刊: 材料导报
• 学科: 工学
• 关键词: X射线法 残余应力 测量原理 测试方法
• 年，卷（期）: 2014,（11）
• 所属期刊栏目: 新材料新技术
• 页码范围: 112-114,127
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 3720字
• 语种: 中文

摘要

简要介绍了机械工件(或构件)的残余应力的来源及其对机械工件使用寿命的影响.概述了晶体残余应力测量中的有损检测和无损测量各自所包括的具体测量方法以及各测量方法的特点和适用情况.重点阐述了X射线法测量残余应力的基本原理、特点和测量时应注意的问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田保红	河南科技大学材料科学与工程学院	267	2502	22.0	30.0
2	苏娟华	河南科技大学材料科学与工程学院	93	549	13.0	18.0
3	任凤章	河南科技大学材料科学与工程学院	221	1239	16.0	22.0
4	魏世忠	河南科技大学材料科学与工程学院	170	1026	15.0	22.0
5	张旦闻	洛阳理工学院机电工程系	29	148	8.0	10.0
6	张伟	洛阳理工学院机电工程系	37	117	6.0	9.0
7	罗玉梅	河南科技大学材料科学与工程学院	3	20	2.0	3.0