折射率调制脉冲射线探测技术原理验证

• 作者: 宋岩 彭博栋 王培伟 盛亮 袁媛 赵军 黑东炜
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 脉冲辐射探测 折射率调制 载流子浓度 干涉仪 超快脉冲探测技术
• 年，卷（期）: 2014,（11）
• 所属期刊栏目: 粒子束技术
• 页码范围: 189-193
• 页数: 5页
• 分类号: TH714
• 字数: 3816字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201426.114005

摘要

为验证折射率调制的脉冲射线束探测技术,建立了原理验证系统.该系统基于平行平板干涉原理,测量传感介质的折射率在射线激发下的瞬时变化.传感介质为GaAs,探针光为1310 nm单模激光,外界激发射线源平均能量为300 keV,脉宽为20 ns.使用带宽775 kHz的近红外InGaAs光电探测器,观测到了GaAs晶体在脉冲射线激发下的折射率变化.初步理论分析表明,射线脉冲在GaAs中产生的非平衡载流子浓度为1014 cm-3量级,折射率变化为10-6量级.折射率变化的实验结果与理论计算在量级上是符合的.实验结果表明,基于折射率调制的脉冲射线束探测技术基本可行,利用该系统可进一步发展高时间分辨的脉冲射线束探测技术.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋岩		12	14	2.0	3.0
2	黑东炜		26	90	6.0	7.0
3	袁媛		29	414	8.0	20.0
4	盛亮		30	73	5.0	6.0
5	王培伟		19	49	5.0	6.0
6	彭博栋		18	62	4.0	7.0
7	赵军		16	36	4.0	5.0