篇名 | Degradation of ferroelectric and weak ferromagnetic properties of BiFeO3 films due to the diffusion of silicon atoms | ||
来源期刊 | 中国物理B(英文版) | 学科 | |
关键词 | ferroelectric ferromagnetic diffusion silicon | ||
年,卷(期) | 2014,(7) | 所属期刊栏目 | |
研究方向 | 页码范围 | 716-720 | |
页数 | 5页 | 分类号 | |
字数 | 语种 | 中文 | |
DOI | 10.1088/1674-1056/23/7/077504 |