用不同敏化方法提高超速测试的故障覆盖率

• 作者: 邝继顺 魏建龙
• 来源期刊: 计算机科学
• 学科: 工学
• 关键词: 小时延缺陷 单通路敏化 非强健测试 跳变时延故障覆盖率 超速测试
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 2013'容错计算
• 页码范围: 55-58,90
• 页数: 5页
• 分类号: TP306
• 字数: 5273字
• 语种: 中文

摘要

面向小时延缺陷(small delay detect,SDDs)的测试产生方法不仅要求测试产生算法复杂度低,还要尽可能地检测到小时延缺陷.超速测试避免了因测试最长敏化通路而带来的测试效率过低的问题,而且它要求测试向量按敏化通路时延进行分组,对每组分配一个合适的超速测试频率,再采用一种可快速、准确选择特定长度的路径选择方法来有效地提高测试质量.同时,文中首次通过优先选用单通路敏化标准对短通路进行检测,对关键通路有选择地进行非强健测试,相对采用单一的敏化方法,能以很小的时间代价提高含有小时延缺陷的结点的跳变时延故障覆盖率(TDF).在ISCAS'89基准电路中对小时延缺陷的检测结果表明:用不同敏化方法进行测试产生,能在低的cpu时间里取得更高的跳变时延故障覆盖率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邝继顺	湖南大学信息科学与工程学院	82	418	11.0	16.0
2	魏建龙	湖南大学信息科学与工程学院	1	2	1.0	1.0