基于单片机的存储测试电路

• 作者: 李杨华
• 来源期刊: 建筑工程技术与设计
• 关键词: 单片机 存储测试技术 存储芯片
• 年，卷（期）: 2014,（35）
• 所属期刊栏目: 科技创新
• 页码范围: 1022-1022
• 页数: 1页
• 字数: 2007字
• 语种: 中文

摘要

存储测试技术八十年代中期开始兴起的，建立在超大规模集成电路和计算机技术的基础之上，是与现代科学技术密切联系的现代测试技术。本文根据实际情况，具体分析了利用单片机实现对存储电路的控制。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李杨华		1	0	0.0	0.0