基于正交解调的频率特性测试仪

• 作者: 侯尚智 李尊杰 肖楷乐
• 来源期刊: 电子世界
• 关键词: STM32 AD9854 正交解调
• 年，卷（期）: 2014,（16）
• 所属期刊栏目: 科研发展
• 页码范围: 96-96
• 页数: 1页
• 字数: 189字
• 语种: 中文

摘要

简易频率特性测试仪分为两部分，正交扫频信号源及正交解调器。本系统以STM32为主控制器，以AD9854芯片为信号发生器来产生两路正交信号。通过键盘使信号实现扫频及点频输出，并可进行信号频率为步进100kHz的调整。信号通过π型衰减网络、乘法器混频、低通滤波器、返回单片机等步骤后，得到被测网络的幅频和相频特性，并进行两种特性曲线的LCD输出。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖楷乐		6	78	4.0	6.0
2	李尊杰		2	5	1.0	2.0
3	侯尚智		1	0	0.0	0.0