常用低气压试验方法的标准依据的解析

• 作者: 凌宗欣 黄菊芹
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 微波组件 低气压试验 试验方法依据 密封检测
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 标准研究
• 页码范围: 54-56
• 页数: 3页
• 分类号: TN12|T-652.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2015.01.011

摘要

以微波组件产品为例,论述了低气压环境对产品性能的影响,对比分析了常用的低气压试验方法的依据及不同点,提出了对密封要求比较高的、适用于航空航天作业环境的产品,在低气压环境试验之后应进行密封检测的必要性,为微波组件产品低气压试验的标准化工作的提升提供了参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	凌宗欣	中国电子科技集团公司第五十五研究所	1	1	1.0	1.0
2	黄菊芹	中国电子科技集团公司第五十五研究所	2	4	1.0	2.0