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摘要:
随着集成光路复杂度的增加,需要在不影响系统正常工作的情况下,在链路内使用光功率监测器对集成光路进行实时监测,有效地进行器件行为分析.文章综述了硅基光功率监测器的最新研究进展.重点阐述了表面态吸收、双光子吸收、锗吸收以及缺陷态吸收机制下的光功率监测方案以及各自的优缺点,最后详细讨论了利用缺陷态吸收机制实现光电转换的巨大优势.
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文献信息
篇名 硅基光功率监测技术的最新进展
来源期刊 光通信研究 学科 工学
关键词 硅基光电子器件 光功率监测器 光电探测器
年,卷(期) 2015,(6) 所属期刊栏目 硅光子与硅基光电子专题
研究方向 页码范围 20-29
页数 10页 分类号 TN256
字数 4154字 语种 中文
DOI 10.13756/j.gtxyj.2015.06.005
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节点文献
硅基光电子器件
光功率监测器
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研究起点
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光通信研究
双月刊
1005-8788
42-1266/TN
大16开
武汉市洪山区邮科院路88号
1975
chi
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10254
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