基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
FPGA 是广泛应用于集成电路设计,片上系统等多领域,随着 FPGA 的广泛应用,对其可靠性的要求也越来越高,由于其结构和功能复杂,其测试难度和成本也随之增加。文章简要介绍了 SRAM 型 FPGA 的逻辑单元(LE)的结构,提出了一种基于扫描链的逻辑资源遍历测试方法。以 Altera 公司 FPGA 为例,简述了在超大规模集成电路测试系统CAT T‐400上实现 FPGA 在线配置和功能测试方法。
推荐文章
可编程逻辑器件逻辑功能的测试新方法
接口
硬件设计
软件设计
可编程逻辑器件
可编程逻辑运行环境的研究与实现
IEC61131-3
RTU
DPU
实时数据库
可编程序控制器
软PLC
适用于现场可编程门阵列I/O通道的可编程延时单元结构设计方法研究
现场可编程门阵列
细调延时单元
粗调延时单元
输入输出通道
PAL可编程逻辑器件开发和应用
PAL
可编程逻辑器件
编程
熔丝
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 FPGA 可编程逻辑单元测试方法研究磁
来源期刊 计算机与数字工程 学科 工学
关键词 FPGA 可编程逻辑单元 扫描链 重配置 自动化测试
年,卷(期) 2015,(1) 所属期刊栏目 测试原理与技术
研究方向 页码范围 65-69
页数 5页 分类号 TN406
字数 2181字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn1672-9722.2015.01.018
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 秦鲁东 4 1 1.0 1.0
2 邱云峰 8 3 1.0 1.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (38)
共引文献  (144)
参考文献  (8)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1971(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1979(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1980(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1981(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1985(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1989(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1991(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1992(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1994(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1996(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1998(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
2000(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2001(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2002(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2003(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2004(6)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(6)
2005(3)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(2)
2006(3)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(2)
2007(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2008(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2009(5)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(5)
2010(4)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(2)
2011(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2012(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2013(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2015(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
FPGA
可编程逻辑单元
扫描链
重配置
自动化测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机与数字工程
月刊
1672-9722
42-1372/TP
大16开
武汉市东湖新技术开发区凤凰产业园藏龙北路1号
1973
chi
出版文献量(篇)
9945
总下载数(次)
28
总被引数(次)
47579
  • 期刊分类
  • 期刊(年)
  • 期刊(期)
  • 期刊推荐
论文1v1指导