FPGA 可编程逻辑单元测试方法研究磁

• 作者: 秦鲁东 邱云峰
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA 可编程逻辑单元 扫描链 重配置 自动化测试
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 测试原理与技术
• 页码范围: 65-69
• 页数: 5页
• 分类号: TN406
• 字数: 2181字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn1672-9722.2015.01.018

摘要

FPGA 是广泛应用于集成电路设计，片上系统等多领域，随着 FPGA 的广泛应用，对其可靠性的要求也越来越高，由于其结构和功能复杂，其测试难度和成本也随之增加。文章简要介绍了 SRAM 型 FPGA 的逻辑单元（LE）的结构，提出了一种基于扫描链的逻辑资源遍历测试方法。以 Altera 公司 FPGA 为例，简述了在超大规模集成电路测试系统CAT T‐400上实现 FPGA 在线配置和功能测试方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	秦鲁东		4	1	1.0	1.0
2	邱云峰		8	3	1.0	1.0