BIT技术在星载电子设备的应用

• 作者: 兰超 王婧琼
• 来源期刊: 空间控制技术与应用
• 学科: 航空航天
• 关键词: 机内测试 星载电子设备 测试体系 分级思想
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 50-54
• 页数: 5页
• 分类号: V443
• 字数: 4865字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-1579.2015.01.010

摘要

在调研国内外最新BIT技术发展的基础上,对该技术在星载电子设备应用的必要性及可行性进行分析,并利用分级思想构建适合星载电子设备的BIT测试体系,为星载电子设备的可测试性发展提供了一种思路.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	兰超		1	4	1.0	1.0
2	王婧琼		1	4	1.0	1.0