X射线衍射K值法测定氧化铁皮中游离α-SiO2的含量

• 作者: 刘国文 刘顺琼 唐梦奇 黎香荣
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: 氧化铁皮 游离α-SiO2含量 X射线衍射法 K值法
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 所属期刊栏目: 岩石矿物分析
• 页码范围: 565-569
• 页数: 5页
• 分类号: O613.72|P575.5
• 字数: 4455字
• 语种: 中文
• DOI: 10.15898/j.cnki.11-2131/td.2015.05.011

摘要

目前通常采用焦磷酸法和X射线衍射法测定游离α-SiO2的含量，其中焦磷酸法不能消除氧化铁皮中FeO、Fe3 O4和Fe2 O3等焦磷酸难溶物质的影响，不适合用于测定氧化铁皮中的游离α-SiO2。本文建立了采用X射线衍射K值法测定氧化铁皮中游离α-SiO2含量的方法。以α-Al2 O3作为参考物质，以α-SiO2（101）衍射峰和α-Al2O3（012）衍射峰作为测量谱峰，将α-SiO2和α-Al2O3（质量比1：1）混合均匀制备成测量K值的试样，获得K值为7.86，应用此值分析已知游离α-SiO2含量的氧化铁皮样品，游离α-SiO2含量的测定值与实际值相符。该方法的测定范围为游离α-SiO2含量≥0.50％，且方便快速，能够满足进口氧化铁皮检验监管的工作需求。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘顺琼		7	66	5.0	7.0
2	黎香荣		25	207	9.0	13.0
3	唐梦奇		19	94	6.0	8.0
4	刘国文		7	46	4.0	6.0