高精度电容式位移传感器校准方法的研究

• 作者: 施玉书 李东升 李伟 李庆贤 李适 郑志月 高思田
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 纳米计量 电容式位移传感器 单轴精密位移台 激光干涉仪
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 页码范围: 14-18
• 页数: 5页
• 分类号: TB92
• 字数: 2751字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2015.01.04

摘要

介绍一种使用激光干涉仪结合单轴精密位移台对电容式位移传感器进行校准的方法.建立了一套高精度电容式位移传感器校准装置,利用单轴精密位移台位移与电压之间的关系产生纳米级的微小位移,同时使用激光干涉仪和待校准电容式位移传感器测量单轴精密位移台的微小位移.该装置可实现电容式位移传感器线性度、测量重复性以及测量分辨率的校准.实验验证了此校准方法的准确性和实用性,对影响校准的主要因素进行了分析,其综合不确定度为2.2 nm.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李东升	中国计量学院计量测试工程学院	176	977	16.0	19.0
2	高思田		93	567	11.0	19.0
3	李伟		27	92	5.0	8.0
4	施玉书		35	121	5.0	8.0
8	李适		11	25	3.0	4.0
9	郑志月	中国计量学院计量测试工程学院	2	6	1.0	2.0
10	李庆贤		1	5	1.0	1.0