相控阵技术在轴承套圈内部探伤中的应用

• 作者: 张玲 张筱旭 彭志战 李国栋 陈治山
• 来源期刊: 轴承
• 学科: 工学
• 关键词: 滚动轴承 套圈 相控阵 探伤 多扫 二维显示 双晶探头
• 年，卷（期）: 2015,（12）
• 所属期刊栏目: 测量与仪器
• 页码范围: 51-52,62
• 页数: 3页
• 分类号: TH133.33|TG115.28+5
• 字数: 1248字
• 语种: 中文

摘要

在薄壁轴承的内部超声波探伤实践中，采用双晶探头探伤存在探伤盲区，容易造成内部缺陷漏检。因此，采用了相控阵超声波技术，其具有多扫及二维显示等特点，能够增强探伤的精确度，提升轴承套圈的内部探伤检测能力，并通过双侧探伤解决了探伤盲区造成的漏检问题。