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摘要:
在考察InGaAs p-i-n管对锁模激光响应的实验中,发现其响应电压在经历一个快速的上升沿和缓慢的拖尾以后有一个明显的负电压.在二极管的线性响应阶段,负电压与正电压的峰值之比大约在0.18左右,且不随激光脉冲能量的增大而改变;在二极管的非线性响应阶段,随着光脉冲能量的增大,负电压逐渐变小最终消失.通过对p-i-n管的等效电路模型的建立以及对RLC振荡电路方程的求解,认为负电压的产生是由于二极管表现出了可观的电感特性,而负电压的消失是由于二极管的结电容随着光脉冲能量增大而增大的结果.该研究结果对InGaAsp-i-n管的设计和制造具有一定的理论指导作用.
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文献信息
篇名 锁模激光照射下InGaAs p-i-n管的负电压响应机理
来源期刊 红外与毫米波学报 学科 工学
关键词 锁模激光 负电压 等效电路 电感 结电容
年,卷(期) 2015,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 36-40
页数 5页 分类号 TN215
字数 2788字 语种 中文
DOI 10.3724/SP.J.1010.2015.00036
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 孙晓泉 电子工程学院脉冲功率与激光技术国家重点实验室 51 580 13.0 21.0
2 豆贤安 电子工程学院脉冲功率与激光技术国家重点实验室 5 5 1.0 1.0
3 胡伟 电子工程学院脉冲功率与激光技术国家重点实验室 8 29 3.0 5.0
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研究主题发展历程
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研究起点
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期刊影响力
红外与毫米波学报
双月刊
1001-9014
31-1577/TN
大16开
上海市玉田路500号
4-335
1982
chi
出版文献量(篇)
2620
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28003
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