相变存储器单元测试用擦写脉冲电流源的设计磁

• 作者: 李震 赖志博
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: 相变存储器 脉冲电流源 参数测试 激光二极管
• 年，卷（期）: 2015,（6）
• 所属期刊栏目: 工程实践
• 页码范围: 1152-1157
• 页数: 6页
• 分类号: TP311
• 字数: 2887字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn1672-9722.2015.06.048

摘要

相变存储器有望成为下一代非易失性存储器，擦写脉冲电流源是相变存储器单元性能测试的重要组成部分，论文根据要求设计一种简易实用的脉冲电流源。它是由激光二极管驱动芯片、可编程电阻芯片和外配置的脉冲电压发生器构成，实现了可编程脉冲宽度的脉冲电流源。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李震	华中科技大学光学与电子信息学院	139	769	14.0	21.0
2	赖志博	华中科技大学光学与电子信息学院	1	2	1.0	1.0