基于相变存储器单元的高速电流脉冲测试系统

• 作者: 曾自强 王玉婵 王玉菡
• 来源期刊: 重庆理工大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 相变存储器 电流脉冲 测试系统 可靠性
• 年，卷（期）: 2020,（6）
• 所属期刊栏目: 电气·电子
• 页码范围: 195-199
• 页数: 5页
• 分类号: TP333
• 字数: 2370字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-8425(z).2020.06.028

摘要

相变存储单元的测试平台多为电压测试平台,但是电压操作存在可控性差等问题,直接影响操作过程中的速度和功耗,且芯片中对单元的操作一般为电流操作,基于此,设计搭建了纳秒级电流脉冲测试系统.该系统采用自主研发的高速可编程恒流驱动芯片提供电流脉冲信号,可提供最小宽度为500 ns的电流脉冲信号.利用固定电阻元件对系统进行测试验证,测试结果与理论值基本一致.在此基础上,对相变单元进行测试,得到了完整的测试窗口,且实现了单元测试过程中瞬态电压的提取,进一步验证了系统的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王玉菡	重庆理工大学电气与电子工程学院	28	64	5.0	6.0
2	王玉婵	重庆邮电大学光电工程学院	10	8	2.0	2.0
3	曾自强	重庆航天职业技术学院电子工程系	6	1	1.0	1.0