一种新型存储器测试辅助分析方法

• 作者: 于跃 张立军 彭增发 郑坚斌 顾昌山
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 存储器 失效存储单元 版图坐标文件 寻址 坐标二维图像
• 年，卷（期）: 2019,（2）
• 页码范围: 93-96
• 页数: 4页
• 分类号: TN492
• 语种: 中文

摘要

为了解决存储器测试数据映射到失效存储单元效率较低且精确度不够的问题,本文提出一种存储器测试辅助分析的方法:首先通过修改存储器编译器(memory compiler),使其自动生成存储阵列版图的物理坐标文件(bitmap).然后将测试得到的存储单元的失效信息在已生成的坐标文件中进行寻址,找出被测试失效单元位于版图中的具体物理坐标.最后通过得到的坐标信息自动输出该失效存储单元的译码信息及该存储单元位于整个存储阵列中的物理坐标二维图像.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张立军		18	38	3.0	5.0
2	郑坚斌		4	7	2.0	2.0
3	于跃		2	4	1.0	2.0
4	彭增发		2	0	0.0	0.0
5	顾昌山		1	0	0.0	0.0