相变存储器测试系统中的脉冲信号的改善

• 作者: 刘波 宋志棠 封松林 梁爽 陈小刚
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 相变存储器 测试系统 串口 PCI控制卡
• 年，卷（期）: 2007,（10）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 1281-1282,1294
• 页数: 3页
• 分类号: TP391
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-4598.2007.10.006

摘要

相变存储器测试系统由于PCI控制卡中的总线信号之间的串扰,严重影响了施加在器件单元上的波形;以保证对C-RAM(Chalcogenide-Random Access Memory)进行非晶化操作时脉冲信号下降沿的速度和整个信号的完整性,针对以上问题分别从串口与单片机通信控制继电器和利用PCI控制卡控制继电器两个方面提出了解决方案,并进行了相应的硬件电路和软件设计;结果发现非晶化操作时脉冲信号下降速度加快,并且消除了信号的失真;改善后的测试系统对器件一致性的参数的提取发挥了重要作用,为芯片的电路设计奠定了基础.