高纯六氟化钨中微量杂质的气相色谱分析

• 作者: 付梦月 侯玲玲 张志勇 黄晓磊
• 来源期刊: 化学推进剂与高分子材料
• 学科: 工学
• 关键词: 六氟化钨 脉冲放电氦离子化检测器 气相色谱 反吹
• 年，卷（期）: 2015,（6）
• 所属期刊栏目: 分析与检测
• 页码范围: 91-93
• 分类号: TQ014
• 语种: 中文
• DOI: 10.16572/j.issn1672-2191.201506019

摘要

介绍了一种利用脉冲放电氦离子化检测器(PDHID)分析六氟化钨(WF6)中气相杂质的方法.该法利用阀切割技术对WF6主组分进行反吹,避免其进入分析柱及检测器,可准确分析出其中杂质的含量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄晓磊		21	55	5.0	6.0
2	侯玲玲		8	14	2.0	3.0
3	付梦月		7	19	3.0	4.0
4	张志勇		10	94	5.0	9.0