基于 AOI 逻辑运算的线性方程应用

• 作者: 孙广岩 张铁轶 方鑫 朱宇 王贺 龚伟
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: 自动光学检查 彩膜 误检 方程
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 页码范围: 883-887
• 页数: 5页
• 分类号: TH865
• 字数: 2693字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20153005.0883

摘要

自动光学检测系统采用周期性比较和逻辑运算的方法获取缺陷点的信息。但由于其最小周期比较 Pitch 存在小数，会造成比较对象的非正确选取。利用两点一线原理，可以构建一次线性方程使原来断点模拟成连续的点，达到无论比较距离是会否为整数，都能找到相对应的灰度值的效果。利用此方法可以提高异常点检出的准确度，同时会避免对产品产量、品质及成本的不利影响，具有重要意义。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张铁轶		3	10	2.0	3.0
2	王贺		1	2	1.0	1.0
3	龚伟		1	2	1.0	1.0
4	朱宇		1	2	1.0	1.0
5	方鑫		1	2	1.0	1.0
6	孙广岩		1	2	1.0	1.0