基于LabVIEW的继电器电寿命试验系统的测控技术

• 作者: 杨益平 樊丽红 郝苗 魏伟
• 来源期刊: 数字技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 继电器 测控技术 数据采集
• 年，卷（期）: 2015,（9）
• 所属期刊栏目: 应用研究
• 页码范围: 80,82
• 页数: 2页
• 分类号: TM581
• 字数: 2270字
• 语种: 中文

摘要

依据继电器电寿命的试验条件,介绍了基于台湾研华工控机和NI PCI_7811R采集板的继电器电寿命检测控制系统的设计思想.采用图形化编程语言LabVIEW,完成FPGA数据采集软件设计,实现主机数据分析处理.采用硬件定时采集数据与软件定时读取的方法,解决了LabVIEW的1ms定时循环中定时相位不准确的问题,试验装置性能良好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏伟		3	1	1.0	1.0
2	樊丽红		2	1	1.0	1.0
3	郝苗		2	1	1.0	1.0
4	杨益平		2	1	1.0	1.0