脑死亡过程中谷氨酸与场电位的同步检测微电极阵列研究

• 作者: 宋轶琳 张松 徐声伟 王力 范心怡 蔚文婧 蔡新霞
• 来源期刊: 分析化学
• 关键词: 微机电系统 植入式微电极阵列 脑死亡 高钾 谷氨酸 局部场电位
• 年，卷（期）: 2015,（7）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 983-988
• 页数: 6页
• 字数: 4264字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11895/j.issn.0253-3820.150039

摘要

高浓度胞外K+会引起神经元的去极化、谷氨酸释放、甚至细胞死亡。为研究高浓度K+对在体神经元的影响，采用微机电系统( MEMS)方法制作了一种植入式微电极阵列( MEA)，其上包含形状、位置固定的电化学(50伊150μm)和电生理(直径为15μm)检测位点，可同时进行脑内神经递质谷氨酸、局部场电位信号( LFP)双模检测。将这种MEA植入到大鼠纹状体后，给大鼠皮层施加高浓度K+刺激，结果表明，高钾刺激增加了纹状体内谷氨酸浓度，同时抑制了神经电生理活动。这是首次采用双模MEA研究神经元在体死亡过程，结果验证了双模微电极阵列在体检测的可行性，可用于研究脑内神经电化学、电生理的时空关系。