高精度白光与微光瞄具零位走动量检测技术研究

• 作者: 安志勇 崔士宝 王劲松 王莹
• 来源期刊: 兵工学报
• 学科: 工学
• 关键词: 兵器科学与技术 组合式瞄具 零位变化量 双自准直仪
• 年，卷（期）: 2015,（8）
• 页码范围: 1481-1486
• 页数: 6页
• 分类号: TH745
• 字数: 2745字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1093.2015.08.015

摘要

针对白光瞄具前加设微光镜组而成的组合式瞄具零位高精度检测需求,研究了一种可检测组合式瞄具纯零位变化及微光镜组光轴走动量的光电检测方法.该方法采用CCD相机测量组合式瞄具总的零位变化量,双自准直仪对组合式瞄具装卡产生的误差和微光镜组装卡产生的调整架姿态变化进行定量检测,并从CCD测量值中予以剔除,最终得到组合瞄具的纯零位变化以及微光镜组的光轴走动量.阐述了检测理论模型,并设计了测量实验.研究结果表明:白光瞄具的纯零位走动量测量精度σ值不大于2.16"(0.01 mil);微光镜组的光轴走动量测量精度σ值不大于21.6"(0.1 mil).

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	安志勇	长春理工大学光电工程学院	159	653	11.0	17.0
2	王劲松	长春理工大学光电工程学院	75	268	8.0	13.0
3	王莹	长春理工大学光电工程学院	7	11	2.0	3.0
4	崔士宝	长春理工大学光电工程学院	6	15	3.0	3.0