电子学系统强电磁脉冲干扰场路结合仿真

• 作者: 孙凤杰 邓建红
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 强电磁脉冲 场路结合 电磁干扰 加固设计
• 年，卷（期）: 2015,（12）
• 所属期刊栏目: 粒子束技术
• 页码范围: 178-182
• 页数: 5页
• 分类号: TN011|TN823
• 字数: 2062字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201527.124003

摘要

对设备机箱内部某串口电路受外界强电磁脉冲干扰所引起的信号完整性问题进行了研究,基于场路结合的仿真分析方法,从空间电磁耦合现象和电路信号干扰效应这两个方面对强电磁脉冲干扰进行了完整的系统分析,发现电磁干扰可导致内部电路出现逻辑电平翻转等扰乱效果,并提出了有效避免电磁干扰的措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙凤杰	中国工程物理研究院电子工程研究所	5	32	4.0	5.0
2	邓建红	中国工程物理研究院电子工程研究所	8	26	3.0	4.0